第839章 技术储备 (第2/4页)
超出预期。在 - 196℃至 120℃的模拟测试中，“67 式” 原有的电容参数漂移达 17%，导致密钥生成错误。团队借鉴 “67 式” 越冬测试的经验，在算法中
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